Semrock Di01-R488/543/635-25x36 激光器BrightLine三边激光器二向色分光镜®
Semrock 零件编号：Di01-R488/543/635-25x36
IDEX 零件编号：FL-006774
针对荧光成像中最常用的激光器优化的分光镜，包括用于传统激光显微镜（如共聚焦成像）的新型全固态激光器。此类别中的所有分光镜在激光波长处都具有出色的反射率，并具有增透 （AR） 涂层，可最大限度地减少相干激光产生的成像伪影。该二向色分光镜经过优化，可反射直径达 2.5 mm 的激光束，同时最大限度地降低 RWE。
规格
| 光学规格 | 价值 |
|---|---|
| 传输带 1 | Tavg > 93% 503.5 – 526.5 nm |
| 传输频段 2 | Tavg > 93% 560 – 615.5 纳米 |
| 传输带 3 | 厚度 > 93% 665.5 – 800 nm |
| 反射波段 1 | 叶轮 > 94% 471 – 491 nm |
| 反射带 1 （p-pol） | 叶轴 > 90% 471 – 491 nm |
| 反射带 1 （s-pol） | 叶轴 > 98% 471 – 491 nm |
| 反射带 2 | 拉布> 94% 541.5 – 544.5 nm |
| 反射带 2 （p-pol） | > 90% 541.5 – 544.5 nm |
| 反射带 2 （s-pol） | 拉布 > 98% 541.5 – 544.5 nm |
| 反射带 3 | 研磨> 94% 632.8 – 647.1 nm |
| 反射带 3 （p-pol） | 拉布> 90% 632.8 – 647.1 nm |
| 反射带 3 （s-pol） | 拉布> 98% 632.8 – 647.1 nm |
| 边缘波长 1 | 499 纳米 |
| 边缘波长 2 | 553 纳米 |
| 边缘波长 3 | 658 纳米 |
| 激光波长 1 | 473 +/- 2 纳米，488 +3/-2 纳米 |
| 激光波长 2 | 543.5 纳米 |
| 激光波长 3 | 632.8 纳米、635 +7/-0 纳米、647.1 纳米 |
| 一般过滤器规格 | 价值 |
| 入射角 | 45 度，偏移 0.35%/度（40 – 50 度） |
| 圆锥半角 | 0.5 度 |
| Optical Damage Rating（光学损伤等级） | 532 nm 处为 2 J/cm²（适用于 532nm 滤光片） |
| 平面度 / RWE 分类 | 激光 |
| 反射波前误差 | < 6λ PV RWE @ 632.8 纳米 |
| 陡度 | 陡 |
| 物理过滤器规格 | 价值 |
| 横向尺寸 （L x W） | 25.2 毫米 x 35.6 毫米 |
| 横向公差 | ± 0.1 毫米 |
| 通光孔径 | ≥ 80%（椭圆） |
| 划痕挖掘 | 60-40 |
| 基板类型 | 熔融石英 |
| Filter Thickness （unmounted） （过滤器厚度 （未安装）） | 1.05 毫米 |
| Filter Thickness （unmounted） （过滤器厚度 （未安装）） | 1.05 毫米 |
| Filter Thickness Tolerance （unmounted） （过滤器厚度公差 （未安装）） | ± 0.05 毫米 |
| Filter Thickness Tolerance （unmounted） （过滤器厚度公差 （未安装）） | ± 0.05 毫米 |
| 取向 | 标有零件编号的反射表面 - 定向入射光 |
技术信息
| 主题 | 描述 |
| 清洁滤光片 | 清洁硬质镀膜滤光片的说明 |
| 过滤器可靠性 | 比较硬涂层过滤器与传统软涂层过滤器的性能和可靠性，并提供有关 Semrock 过滤器测试标准的信息 |
| 二向色分光镜的平面度 | 描述非平面二向色分光镜对显微镜图像保真度的影响 |
| Laser Damage Threshold（激光损伤阈值） | 提供用于计算脉冲波和连续波激光器的激光损伤阈值的信息 |
| 用于激光荧光显微镜的滤光片 | 讨论了激光激发对传统荧光显微镜滤光片选择施加的其他考虑因素 |
期刊文章
| 主题 | 描述 |
| 为荧光显微镜带来超分辨率 | Prashant Prabhat 博士和 Turan Erdogan 博士，Semrock Inc.， 生物光子学， 2010 年 5 月/6 月荧光显微镜技术的进步使用户能够打破折射极限并可视化类似于 电子显微镜 |
| 荧光成像：滤光片优化基于激光的荧光成像系统 | Semrock Inc. 的 Prashant Prabhat 博士和 Turan Erdogan 博士， Laser Focus World，2010 年 1 月讨论了激光激发对传统荧光显微镜滤光片选择施加的其他考虑因素 |
| 完善 TIRF 光学元件 | Semrock Inc. 的 Prashant Prabhat 博士和 Turan Erdogan 博士，BioOptics World，2009 年 1 月/2 月 讨论了激光激发对传统荧光显微镜滤光片选择施加的其他考虑因素 |
白皮书
| 主题 | 描述 |
| 用于激光荧光显微镜的滤光片 | 分析激光激发对传统荧光显微镜滤光片选择施加的其他考虑因素，重点是多激光系统。 |
| 二向色分光镜的平坦度会影响焦点和图像质量 | 分析二向色滤光片的曲率半径如何影响荧光显微镜中的焦平面偏移、光斑大小和图像保真度。 |
| 超分辨率显微镜 | 讨论了荧光显微镜技术的进步，这些技术允许用户打破折射极限并可视化类似于电子显微镜的分辨率 |
应用
| 主题 | 描述 |
| TIRF （全内反射荧光） | TIRF 显微镜概述，包括 Semrock 的解决方案和其他学习资源。 |
| 激光扫描/转盘共聚焦显微镜 | 共聚焦显微镜技术和应用概述，包括 Semrock 的解决方案和其他学习资源。 |
| 基于激光的仪器仪表 | 对基于激光的仪器的常见回顾，包括 Semrock 的解决方案和其他学习资源。 |
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