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    PUZHE 蒲柘 PZ-JJD 表面洁净度显微镜

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    PUZHE 蒲柘 PZ-JJD 表面洁净度显微镜



    产品概述

    镀膜玻璃、芯片、碳膜、纳米标尺、精密光学元件、IC封装芯片、光亮金属表面、轻触开关元器件、划痕、手印、灰尘等材料表面洁表面洁净度检查显微镜,一般常用的有体视显微镜和金相显微镜或者多功能一体机。体视显微镜放大倍数在7-55X之间。可以检测5um及以上的污染物,并且检查的视场范围较大。金相显微镜发大倍数在5X-1000X之间,可以很容易发现0.5um的污染物,但视场范围小。多功能显微镜兼顾体视显微镜与金相显微镜放大倍率,可通过显示屏检查污染物。

    规格参数


    序号

    产品名称

    技术参数

    配置一(检测5um及以上的污染物)

    1

    体视显微镜

    放大倍数:45X、55X、65X、75X、80X多种可选

    2

    摄像装置

    像素200万-1200万  HDMI摄像头 数字摄像头、二维测量功能

    3

    电脑、显示器、一体屏(选配)


    配置二(检测0.5um-1000um污染物)

    1

    金相显微镜

    50X-800X

    2

    摄像装置

    像素200万-1200万  HDMI摄像头 数字摄像头、二维测量功能

    3

    电脑、显示器、一体屏(选配)


    配置三(检测0.8um以上污染物)

    1

    多功能显微镜

    直筒放大倍数0.7-5.6X  可选配4X、10X、20X、40X、50X 物镜

    2

    摄像装置

    1080P  2K  4K相机可选、二维测量功能 wifi功能

    3

    显示器、一体屏(选配)





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