Semrock FF835-SDi01-t1-25x36 多光子3P短通超分辨率/TIRF二向色分光镜®
Semrock 零件编号：FF835-SDi01-t1-25x36
IDEX 零件编号：FL-413699
创新的短通二向色分光镜，针对标准落射荧光显微镜配置中的三光子激光激发进行了优化，具有反射激发和透射发射。
2光子（红色）和3光子（绿色和红色）激发区域非常适合飞秒脉冲激光器，如Ti：Sapphire、OPO或OPA耦合，以及钕和镱掺杂激光器，使深层组织成像具有更高的对比度。这种多光子二向色性具有低反射 GDD，有助于最大限度地减少反射 1300 nm 和 1700 nm 激光脉冲的时间脉冲展宽，以及非常高且平坦的反射和透射带。
Semrock 的超分辨率/TIRF 二向色性有两种厚度可供选择，可提供行业领先的平坦度，从而最大限度地减少激光束光斑的焦点偏移和光波前像差，从而实现流行的成像和超分辨率技术，如 TIRF、PALM、STORM、结构照明、STED 和多光子成像。
1 mm 上的 2.5λ P-V RWE，经过优化，可反射直径达 6 mm 的激光束，同时最小化 RWE
λ/3 mm 上的 P-V RWE，优化可反射直径达 16.7 mm 的激光束，同时最小化 RWE
规格
| 光学规格 | 价值 |
|---|---|
| 传输带 1 | 塔夫格 > 90% 400 – 820 nm |
| 传输频段 2 | Tavg > 80% 400 – 420 nm（滚动窗口：10 nm） |
| 传输带 3 | Tavg > 90% 420 – 820 nm（滚动窗口：10 nm） |
| 反射波段 1 | Ravg > 94% 1200 – 1350 nm |
| 反射带 1 （p-pol） | Ravg > 90% 1200 – 1350 nm |
| 反射带 1 （s-pol） | Ravg > 98% 1200 – 1350 nm |
| 反射带 2 | Ravg > 94% 1600 – 1870 nm |
| 反射带 2 （p-pol） | Ravg > 90% 1600 – 1870 nm |
| 反射带 2 （s-pol） | Ravg > 98% 1600 – 1870 nm |
| 边缘波长 1 | 835 纳米 |
| 激光波长 1 | 1200 - 1350 纳米 |
| 激光波长 2 | 1600 - 1870 纳米 |
| 一般过滤器规格 | 价值 |
| 入射角 | 45 ± 1.5 度 |
| 圆锥半角 | 2 度 |
| Optical Damage Rating（光学损伤等级） | 1 J/cm² @ 532 nm（10 ns 脉冲宽度） |
| 平面度 / RWE 分类 | 超分辨率 / TIRF |
| 最大反射激光束直径 | 6 毫米 |
| 标称平面度 | < 每英寸 1.4λ P-V @ 632.8 nm |
| 反射波前误差 | < 2.5λ PV RWE @ 632.8 nm |
| 陡度 | 标准 |
| 群延迟色散 1 | ± 1500 fs² 的 S-Pol 和 P-Pol 在 1200 - 1350 nm 反射波段 |
| 群延迟分散 2 | ± 750 fs² 的 S-Pol 和 P-Pol 在 1600 - 1870 nm 反射波段上 |
| 物理过滤器规格 | 价值 |
| 横向尺寸 （L x W） | 25.2 毫米 x 35.6 毫米 |
| 横向公差 | ± 0.1 毫米 |
| 通光孔径 | ≥ 80%（椭圆） |
| 划痕挖掘 | 60-40 |
| 基板类型 | 熔融石英 |
| Filter Thickness （unmounted） （过滤器厚度 （未安装）） | 1.05 毫米 |
| Filter Thickness Tolerance （unmounted） （过滤器厚度公差 （未安装）） | ± 0.05 毫米 |
| 取向 | 用激光点标记的反射表面 - 定向入射光的方向 |
相关产品
技术信息
| 主题 | 描述 |
| 清洁滤光片 | 清洁硬质镀膜滤光片的说明 |
| 过滤器可靠性 | 比较硬涂层过滤器与传统软涂层过滤器的性能和可靠性，并提供有关 Semrock 过滤器测试标准的信息 |
| 二向色分光镜的平面度 | 描述非平面二向色分光镜对显微镜图像保真度的影响 |
| Laser Damage Threshold（激光损伤阈值） | 提供用于计算脉冲波和连续波激光器的激光损伤阈值的信息 |
| 多波段滤波器集术语 | 比较完整 multiband、pinkel 和 sedat 滤波器组的优缺点 |
| 用于激光荧光显微镜的滤光片 | 讨论了激光激发对传统荧光显微镜滤光片选择施加的其他考虑因素 |
期刊文章
| 主题 | 描述 |
| 为荧光显微镜带来超分辨率 | Prashant Prabhat 博士和 Turan Erdogan 博士，Semrock Inc.， 生物光子学， 2010 年 5 月/6 月荧光显微镜技术的进步使用户能够打破折射极限，实现类似于电子的分辨率 显微镜 |
| 荧光成像：滤光片优化基于激光的荧光成像系统 | Semrock Inc. 的 Prashant Prabhat 博士和 Turan Erdogan 博士， Laser Focus World，2010 年 1 月讨论了激光激发对传统荧光显微镜滤光片选择施加的其他考虑因素 |
| 完善 TIRF 光学元件 | Semrock Inc. 的 Prashant Prabhat 博士和 Turan Erdogan 博士，BioOptics World，2009 年 1 月/2 月 讨论了激光激发对传统荧光显微镜滤光片选择施加的其他考虑因素 |
白皮书
| 主题 | 描述 |
| 完善 TIRF 光学元件 | 分析激光激发对传统荧光显微镜滤光片选择施加的其他考虑因素，重点是多激光系统。 |
| 二向色分光镜的平坦度会影响焦点和图像质量 | 分析二向色滤光片的曲率半径如何影响荧光显微镜中的焦平面偏移、光斑大小和图像保真度。 |
| 超分辨率显微镜 | 讨论了荧光显微镜技术的进步，这些技术允许用户打破折射极限并可视化类似于电子显微镜的分辨率 |
应用
| 主题 | 描述 |
| TIRF （全内反射荧光） | TIRF 显微镜概述，包括 Semrock 的解决方案和其他学习资源。 |
| 激光扫描/转盘共聚焦显微镜 | 共聚焦显微镜技术和应用概述，包括 Semrock 的解决方案和其他学习资源。 |
| 基于激光的仪器仪表 | 对基于激光的仪器的常见回顾，包括 Semrock 的解决方案和其他学习资源。 |
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