Oeabt 基座光学 BTC200 光束质量分析相机
产品说明
• 大面阵1/1.8吋CMOS传感器，分辨率1600*1200，有效像素192万；
• 4.5*4.5μm像素大小；
• 即插即用的USB3.0通信接口，计算机无需添加额外的采集卡；
• 低功耗，无需额外供电；
• 兼容连续激光与脉冲激光的光束轮廓连续采集；
• 脉冲采集可由外部TTL脉冲异步信号触发；
• 可输出“通过/失效”信号（TTL脉冲），当激光束发生偏转、形变、散焦等异常时，软件可输出报警信号至警灯、警铃。实现工业现场的在线监测功能；
• 1000：1高信噪比，10位AD转换精度，有效采集更丰富的细节；
• 采用Oeabt ®专利产品滤镜支架，可实现1/10~1/100，1000倍率的衰减，为对应高功率激光检测，还有分光装置可供选择；
• 配合基座光学BeamTester™ ( 光策) 软件系统，可实现丰富的光束质量分析功能；
分析激光光束是对其功率或能量测量的一种补充，它提供了非常有用的附加信息，如空间能量或强度分布、光束宽度、质心、椭圆度和方向，这可以帮助您确定您的激光系统是否在理想状态下运行。BeamTester™ 光束质量分析软件采用科研级相机采集光束的截面图像，再结合计算机辅助运算，对光束的汇聚性、能量的分布状态、光束直径和宽度等二十余项指标进行量化评测。经量化后的指标可生成和输出统计报告，结合光束截面的形态影像等要素。用户可以快速、准确的评价激光或其他光源光束的质量水平。
| 项目 | 参数 | 备注 |
| 传感器类型 | CMOS | |
| 传感器分辨率 | 1600x1200 像素 | |
| 传感器有效区域 | 7.2x5.3mm（1/1.8吋） | |
| 光谱范围 | 300-1100nm | 配合衰减片后400-1100nm |
| 衰减片 | 低失真中性衰减片 | 可叠加、拆卸 |
| 衰减片材质 | NG10玻璃OD=2.3 | |
| 通讯接口 | USB3.0 | 兼容USB2.0 |
| 采集模式 | 脉冲和连续激光 | |
| 脉冲激光触发模式 | TTL触发信号输入 | |
| 最高触发频率 | 100Hz | 不平均相邻脉冲 |
| 实时视频最高帧率 | 60FPS | |
| 采集和计算最高帧率 | 25FPS | |
| 连续波饱和度@ 633 nm | 40mW/cm²（衰减后） | 16uW/cm²（未衰减） |
| 连续波饱和度@ 1064 nm | ||
| USB连接器形式 | micro USB 3.1 GEN1 | |
| 数字IO连接器形式 | 6-Pin航空插座 | |
| 体积 | 50.0*50.0*44.6mm | |
| 质量 | 219.4g |
示意图
BTC200标配件【100mW】
• 大面阵1/1.8吋CMOS传感器，分辨率1600*1200，有效像素192万；
• 4.5*4.5μm像素大小；
• 即插即用的USB3.0通信接口，计算机无需添加额外的采集卡；
• 低功耗，无需额外供电；
• 兼容连续激光与脉冲激光的光束轮廓连续采集；
• 脉冲采集可由外部TTL脉冲异步信号触发；
• 可输出“通过/失效”信号（TTL脉冲），当激光束发生偏转、形变、散焦等异常时，软件可输出报警信号至警灯、警铃。实现工业现场的在线监测功能；
• 1000：1高信噪比，10位AD转换精度，有效采集更丰富的细节；
• 采用Oeabt ®专利产品滤镜支架，可实现1/10~1/100，1000倍率的衰减，为对应高功率激光检测，还有分光装置可供选择；
• 配合基座光学BeamTester™ ( 光策) 软件系统，可实现丰富的光束质量分析功能；
套件清单：BTC200 光束质量分析相机*1、CWO-X2 滤光片安装座*1、AND-C1-001 滤光片*1 (透过率0.01%)、AND-C1-1 滤光片*1 (透过率1%)、PCAH3-S 不锈钢接杆*1、CAT57-T 伸缩式接杆支架*1、M-BASE 底板*1；预装置滤光片件：CSA-08T+AND-C1-10(透过率: 10%)*1、CSA-08T+AND-C1-60(透过率: 60%)*1
手机/微信：13246646513 13682357549 QQ：564600083 672776553 Email：564600083@qq.com 672776553@qq.com
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