CORRECT 清和 LAF5S-C 激光自动对焦
MS-200-TWL-LAF
激光自动对焦系统
采用新安装的激光器,采样率比我们的传统产品快约 10 倍。
我们使用不受图案影响的对角激光。
非常适合晶圆和玻璃等高反射率样品的表面检测。
还可选配微分干涉(DIC)和3波长观察。
| 模型 | LAF5S-C |
|---|---|
| 类型 | 半导体激光器 |
| 半导体激光器 | 670nm |
| 安全标准 | 3R级 |
| 采样率 | 高达 5kHz |
| 定位时间 | 外部触发类型:0.2秒 跟踪类型:0秒 |


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