Oeabt 基座光学 OEDU-MIEK 迈克尔逊干涉仪教学套件
产品说明
• Oeabt教学演示系列产品旨在通过各种经典实验来促进物理学、光学、光子学以及各种新兴研究领域的发展。每种教学套件包含所有必需的组件和一本说明手册，手册中有详细的装置说明和教学操作指导。
迈克尔逊干涉仪是一种基于光干涉原理测量光程差的实验套件。
| 光源组件 | |||
| 项目 | 型号 | 备注 | 数量 |
| Ø12mm激光源 | OM-12A520-3-G | 波长520nm，功率3mW | 1 |
| 激光器安装孔 | OAD-POL-12 | 安装孔径：Ø12mm | 1 |
| 笼式调整镜架 | MC-S1 | 平滑孔款，兼容Ø1英寸光元件，±5°俯仰±3mm平移 | 1 |
| 项目 | 型号 | 备注 | 数量 |
| LED光源 | LED-C-MAX4K | 白光4000-4500K,输出电压：DC 12V,功率3W Max | 1 |
| Ø1英寸透镜套筒 | CSB-24 | SM1内螺纹，L=16mm，附带2个卡环 | 1 |
| 环驱动可调光阑 | CDM-12 | 通光孔径：Ø1mm~12mm；SM1内外螺纹 | 1 |
| 套筒夹具环 | SCR1 | 夹持Ø1英寸套筒到接杆上，底部M4螺孔 | 1 |
| 反射镜组件 | |||
| 项目 | 型号 | 备注 | 数量 |
| 铝膜反射镜 | TFA-C1 | Ø25.4*5mm，适用波长：380-780nm | 2 |
| 二轴可调镜架 | MK100-A | 兼容Ø1英寸光元件，可调倾斜±4° | 1 |
| Z轴平移安装座 | CMSA-Z | 轴向：Z轴位移1.2mm，分度5μm；安装Ø25.4mm镜片 | 1 |
| 分光器组件 | |||
| 项目 | 型号 | 备注 | 数量 |
| 分光棱镜立方体 | M2-BS1 | 预装置件，CSL30-M立方体+CSMH-25.4-M分光棱镜(适用400-700nm) | 1 |
| 透镜组件 | |||
| 项目 | 型号 | 备注 | 数量 |
| 双凸透镜 | OLB-I1-50.8PM | Ø1英寸，f=50.8mm，增透膜：400-700nm | 1 |
| 透镜安装座 | SM-R1 | 兼容Ø1英寸光元件，SM1螺纹 | 1 |
| 偏振器组件 | |||
| 项目 | 型号 | 备注 | 数量 |
| 平板片夹持臂 | FFCA | 夹持厚度：0.8-2.3mm | 1 |
| 旋转安装座 | R-TSX-M | 60°粗调旋转，5°微调行程；负载能力：粗调11.4kg，精调1.7kg | 1 |
| 玻璃片 | — | — | 1 |
| 热膨胀组件 | |||
| 项目 | 型号 | 备注 | 数量 |
| 加热铝棒配件 | — | 加热片，聚酰亚胺加热膜：30*40mm，电压功率：5V 1W | 3 |
| CSB-16 | Ø1英寸套筒，SM1内螺纹，L=16mm，附带2个卡环 | 1 | |
| SM1-M4A | SM1转M4螺纹转接件 | 1 | |
| TFA-C1 | Ø25.4*5mm，适用波长：380-780nm | 1 | |
| — | 加热铝棒 | 1 | |
| — | DC 5V电源 | 1 | |
| 测温仪控制器 | — | 测量范围：-199.9℃-1360℃；温度系数：低于0.1倍的准确性规格℃（°F)； 输入保护：最大输入电压DC 60V,AC 24V | 1 |
| 机械组件 | |||
| 项目 | 型号 | 备注 | 数量 |
| 面包板 | OHD4060-A | 400*600*13mm，M6螺孔阵列，5个沉孔 | 1 |
| 角度夹具 | PC12-A12 | 夹具角度：90°，兼容Ø12.7mm接杆 | 1 |
| 接杆支架 | CAT57-T | 伸缩式接杆支架，L=57mm，旋扭高度8mm，兼容Ø12.7mm接杆，M6螺孔 | 5 |
| PCAH2-S | Ø12.7mm接杆，L=50.8mm，一端M4一端M6螺孔 | 7 | |
| PCA31-S | 接杆底盘，M6螺栓 | 5 | |
| M-BASE-C | 叉式压板，固定接杆支架位置 | 5 | |
| 光斑观察白屏板 | PIS-A2 | 白板：148*90*4.4mm | 2 |
| CFP1-S【M4】 | 白屏板接杆，Ø1英寸，L=25.4mm， | 2 | |
| 工具配件 | MHR-BX | 磁性准直尺，带公/英制刻度 | 1 |
| SPW-TH | 扳手工具架，含手拧螺丝*7颗和六角扳手*7把 | 1 | |
| SPW-SM150 | 卡环扳手，L=50mm，带刻度，兼容SM1卡环 | 1 | |
| 螺丝包 | 附赠 | - | |
示意图
OEDU-MIEK 迈克尔逊干涉仪教学套件
• 测量光程差：精确测量微小的长度变化和位移，应用于精密机械和纳米技术。
• 折射率测量：通过测量干涉条纹的变化，可以确定不同介质的折射率。
• 光谱分析：用于高精度的波长测量和光谱分析。
• 材料科学：测量材料的热膨胀系数和其他光学特性。
• 基础物理实验：·迈克尔逊-莫雷实验：用于探测以太的存在，最终支持了相对论理论。 ·LIGO：利用干涉仪原理检测引力波。
迈克尔逊干涉仪利用光的干涉原理进行测量，主要用于测量光的相位变化和光程差。它通过分离和重组光束来产生干涉图样，从而可以进行精密测量和分析。
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